摘要：测量审核和实验室间比对是能力验证计划的有效补充形式，是实验室或者检查机构用于实验室质量控制及申请CNAS 认可的重要手段。本文随机抽取2010 年～ 2012 年低温试验测量审核与高温试验实验室间比对结果为不满意的报告各8 份作为样本，进行原因分析，并给出技术建议，旨在让参加实验室在以后的相关试验中能规避常见问题，提高测试能力。
关键词：测量审核；实验室间比对；高低温试验；不满意原因
引 言
鉴于能力验证计划实施开展的周期较长、不定适时等原因，测量审核和实验室间比对是能力验证的有效补充形式，是实验室或者检查机构用于实验室质量控制及申请CNAS 认可等的重要手段。CNAS-AL07：2011《CNAS 能力验证领域和频次表》规定，高低温试验所在子领域的低参加频次要求是1 次/2 年，即在没有适当、适时的常规能力验证计划开展的情况下，实验室可以参加相应的测量审核和实验室间比对。方面可以满足CNAS 的频次要求，另方面可以加强实验室的质量控制。
CNAS-RL02：2010《能力验证规则》中指出，测量审核是指个参加者对被测物品（材料或制品）进行实际测试，其测试结果与参考值进行比较的活动。（注：测量审核是对个参加者进行“对”能力评价的能力验证计划。）实验室间比对是指按照预先规定的条件，由两个或多个实验室对相同或相似的物品进行测量或检测的组织，实施和评价。
本文旨在介绍高低温试验能力验证活动及找出导致高低温试验能力验证结果不满意的主要因素，故随机抽取2010 年～ 2012 年低温试验测量审核与高温试验实验室间比对结果为不满意的报告各8 份作为样本，进行原因分析。
2 低温试验测量审核与高温试验实验室间比对
试验说明及结果判定方法
2.1 低温试验测量审核试验说明及结果评价方法
（1）低温试验测量审核依据GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2 部分: 试验方法 试验A: 低温》进行试验。试验测试所示。试验要求供电电源：220V±5% ～，50Hz±1%，电路导线横截面积：1.0mm2。通过对低温试验测量审核（降温速率）及高温试验实验室间比对（升温速率）的统计得知，降温速率/ 升温速率是影响试验结果的重要因素，参加高低温试验的实验室需要引起重视。
3.2 在进行低温试验测量审核与高温试验实验室间比对时，均要求参加实验室提供试验中所使用的主要仪器设备即温度箱的校准证书。在随机抽取的16 份不满意报告中，有些实验室本应该在报告测试结果时结合温度箱的校准证书对测试结果进行修正，但实际报告测试结果时未作修正，从而导致了不满意结果的出现。以上两点是造成低温试验测量审核与高温试验实验室间比对不满意的两个主要原因，下面我们就其他可能影响试验结果的因素做以下分析。
